COMUNICADO: Rohde & Schwarz vuelve a ganar el GTI Innovation Award por su continuo compromiso con toda la industria TD-LTE

Actualizado: miércoles, 4 marzo 2015 18:19

MUNICH, March 4, 2015 /PRNewswire/ --

Cada año en el Congreso Mundial Móvil, la Global TD-LTE Initiative (GTI) reconoce los logros y éxito de los agentes de la industria que participan en el ecosistema TD-LTE.

Rohde & Schwarz, un líder mundial en todas las áreas de las pruebas y mediciones RF, ha vuelto a ganar el codiciado GTI Innovation Award en 2015. La compañía ha sido seleccionada por su continuo esfuerzo por apoyar la GTI y toda la industria TD-LTE con su amplia cartera de soluciones de prueba para TD-LTE. Christian Leicher, director general y director de operaciones de Rohde & Schwarz, comentó: "Estamos orgullosos de recibir este premio y seguiremos ofreciendo soluciones de prueba innovadoras para la GTI. Recibir el GTI Award confirma que vamos por el camino adecuado".

Las soluciones de prueba de Rohde & Schwarz apoyan todas las partes de la cadena de valor, desde chipsets y componentes, smartphones y otros dispositivos móviles a infraestructuras y emisoras base, ofreciendo el mejor rendimiento posible. Las soluciones para pruebas de smartphone apoyan el lanzamiento de servicios como voz sobre LTE (VoLTE). Cubren los escenarios de pruebas requeridos por operadores de redes líderes para probar la calidad de las aplicaciones de vídeo como reproducción de vídeo HD, descargando y visualizando en el equipamiento del usuario LTE. Para aumentar el rendimiento de amplificadores de potencia y moduladores DC, hay disponible una solución de prueba de seguimiento de envolvente. Rohde & Schwarz también ayuda a promover la disponibilidad comercial de LTE-Advanced con equipamiento de prueba para agregación del operador en dispositivos y en estaciones base LTE-Advanced.

En 2014, Rohde & Schwarz recibió el GTI Innovation Award por su sistema de prueba R&S TS8980, el primer sistema de prueba validado TD-LTE del mercado y el primero en introducir la capacidad de prueba TD-LTE.

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